tayyorishlar

Mahsulot tavsifi

Ellipsometriya usuli - nanoo'lchamli qatlamlarning qalinligini o'lchashda foydalaniladigan yuqori aniqlikdagi optik tadqiqot usuli

#optik xususiyatlar#qalinlik o'lchash#nanoo'lchamli qatlamlar

Muallif

MATN Muharriri 1.0
MATN Muharriri 1.0Tasdiqlangan muallif
Hujjatlari
10 805
Sotilgan
895

O'xshash hujjatlar

Semantik Diferensatsiyalash UsuliPPTX

Semantik Diferensatsiyalash Usuli

4 000 so'm
64
Yuqori aniqlikdagi optik teodolitlarPPTX

Yuqori aniqlikdagi optik teodolitlar

4 000 so'm
71
Spektral ellipsometrDOCX

Spektral ellipsometr

8 000 so'm
5
UltrasonografiyaPPTX

Ultrasonografiya

3 500 so'm
47
REFTAKTOMETRIYA USULIDOCX

REFTAKTOMETRIYA USULI

4 000 so'm
48
Dermatoglifika usuli haqidaPPTX

Dermatoglifika usuli haqida

4 000 so'm
78
Interferensiyaga asoslangan optik asboblarPPTX

Interferensiyaga asoslangan optik asboblar

4 700 so'm
123
Spirometriya o'lchash usuli haqidaPPTX

Spirometriya o'lchash usuli haqida

8 000 so'm
389
Konstruksiyaning eng yuqori kuchlanish holati usuliDOCX

Konstruksiyaning eng yuqori kuchlanish holati usuli

18 181 so'm
71
Geodezik punkitlarni loyihalash va joyda mahkamlashDOCX

Geodezik punkitlarni loyihalash va joyda mahkamlash

7 000 so'm
93